Palety i płyty kratowe

Dzięki systemom paletowym ZEISS można znacznie zwiększyć przepustowość urządzenia pomiarowego: Podczas gdy urządzenie nadal dokonuje pomiarów, następny element jest umieszczany na innej palecie. Wymiana trwa zaledwie kilka sekund, a paleta może być ustawiona do pomiaru bez konieczności ponownej kalibracji. Dostępne są również płyty rusztowe, za pomocą których obrabiane elementy mogą zostać bezpiecznie zamocowane na współrzędnościowej maszynie pomiarowej. Do tego celu wykorzystywane są oprawy z systemu modułowego ZEISS.